FE-SEM (Field Emission Scanning Electron Microscopes) – Microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo de ultra alta resolución de confiabilidad comprobada (FE-SEM).
Proveedores
Seleccionar C-Therm CIQTEK Dr Födisch Fluidan Malvern Panalytical Microfluidics Parsum Particle Measuring Systems Postnova Precipoint Sopat Surface Measurement Systems Vision Analytical
Sectores
Seleccionar Alimentación-Agua y MedioAmbiente Automoción-Aeronautica Energía-Electrónica Farmaceutico-Cosmetica-Biotecnológia I+D-Servicios Laboratorio-Docencia Químico – Metales y Minerales
Tipos de Muestras
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Microscopio electrónico de barrido por emisión de campo SEM 5000