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Microscopio SEM con Microanálisis ProX


Category : Phenom-World


Product Code : PHW - ProX


Microscopio SEM con Microanálisis ProX


Microscopio SEM todo en uno ProX de Phenom-World

 

El Microscopio Electrónico de Barrido de sobremesa Phenom proX es el máximo exponente de resolución y análisis elemental de Phenom-World todo en uno incluyendo imágen y sistema de análisis por rayos X. Viendo imágenes en tres dimensiones de estructuras microscópicas, resolvemos una parte de información cuando estamos analizando muestras.

 

A menudo es necesario recoger algo más que los datos ópticos, disponiendo de la identificación de los diferentes elementos de la propia muestra. Esto se logra en el sistema Phenom con un detector EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) específicamente diseñado e integrado.

 

EDS o Espectroscopía de Energía Dispersiva, es una técnica analítica que analiza los rayos X generados por una muestra cuando se bombardea con un haz de electrones.

 

Este sistema de análisis elemental está completamente integrado en el Microscopio Electrónico de Barrido de Sobremesa proX, junto con el software de control. El cambio entre paquetes de software u ordenadores es cosa del pasado con la nueva capacidad "todo en uno" del sistema proX de Phenom-World.

 

Especificaciones técnicas:

  • Rango de magnificación óptica: 20 a 135x
  • Rango de magnificación óptica: 80 a 130.000x
  • Resolución: <10nm
  • Analizador multi-canal de 2048 canales a 10eV/ch
  • Modo de análisis a alta velocidad de rayos X: 15kV
  • Fuente termoiónica de larga vida (CeB6)
  • Carga de la muestra en menos de 30 segundos
  • Modo de imagen de reducción de carga: 5kV

Dimensiones y peso:

  • Módulo de imagen: 286 (w) x 566 (d) x 495 (h) mm, 50 kg
  • Bomba de vacío de diafragma: 145 (w) x 220 (d) x 213 (h) mm, 4.5 kg
  • Fuente de alimentación: 156 (w) x 300 (d) x 74 (h) mm, 3 kg
  • Monitor táctil de 19": 375 (w) x 203 (d) x 395 (h) mm, 7.9 kg

Más información en el catálogo ProX, o en la propia web de Phenom-World.


 
 

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